传质单元高度

在逆流操作的微分接触传质设备中,使浓度变化达到传质单元数为 1所需的设备接触传质段高度。传质单元高度综合反映了设备的传质特性,可根据两相的流量和传质总系数分别用下式计算:

公式 符号

式中(HTU)公式 符号和(HTU)公式 符号分别为用x相和y相参数表示的传质单元高度;Cx和Cy分别为两相的摩尔流率;KOx和KOy分别为以x相摩尔分率差和y相摩尔分率差为推动力的两相的传质总系数;α为比表面积,即单位设备体积的传质面积。传质单元高度的概念,广泛应用于吸收、萃取和精馏等的设计计算中。已知传质单元高度和传质单元数,其乘积即为完成给定分离任务所需的设备接触传质段高度。两相流速有变化时,传质系数的变化较大,传质单元高度的变化较小。因此,在逆流操作的微分接触传质设备的放大设计时,采用传质单元高度的计算方法,较为方便和可靠。

传质单元高度由实验测定,它与设备结构、物系性质以及两相流速等因素有关,变动范围很大。吸收用的填充塔,其传质单元高度多为0.5~1.5m,用于精密精馏的填充塔或膜式塔,其传质单元高度较小,有的仅为几厘米。